Шелудько В. Е. Морфология поверхности и электрофизические характеристики толстых пленок на основе SnO2 - Sb после лазерной обработки / В. Е. Шелудько, А. В. Паустовский, Б. М. Рудь, А. Г. Гончар, И. И. Тимофеева, А. А. Рогозинская, Е. Я. Тельников, П. С. Смертенко, Н. И. Анякин, В. В. Кременицкий, И. В. Захарченко // Порошковая металлургия. - 2014. - № 9/10. - С. 114-129. - рус.Изучено влияние импульсного лазерного облучения на структуру и электрофизические свойства резистивных толстых пленок на основе твердого раствора Sn0,9Sb0,1O2. С помощью методов электронной сканирующей, атомной силовой микроскопии и рентгенофазового анализа исследована структура резистивных толстых пленок, а также получено концентрационное распределение твёрдого раствора Sn0,9Sb0,1O2 в поверхностных слоях и по толщине пленки. Облучение резистивных толстых пленок лазерными импульсами нано- и микросекундной длительности изменяет вольтамперные характеристики по сравнению с образцами после лазерной обработки импульсами миллисекундной длительности. В интервале напряжений от 1 до 10 - 11 В вольтамперные характеристики становятся практически линейными, что позволяет определить оптимальную (<$Ealpha~=~1>) для работы резисторов область напряжений. Температурный коэффициент сопротивления зависит от длительности импульса и его энергии. Індекс рубрикатора НБУВ: К232.702.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж28502 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|