Салій Я. П. Кристалографічні особливості наноструктур SnTe на полііміді / Я. П. Салій // Фізика і хімія твердого тіла. - 2015. - 16, № 1. - С. 79-82. - Бібліогр.: 5 назв. - укp.Виконано статистичний аналіз кристалографічних кутів елементів поверхні плівок телуриду олова, осаджених на підкладки з полііміду за допомогою методу відкритого випаровування у вакуумі. Аналіз зображень, одержаних атомно-силовим мікроскопом, виявив вплив технологічних факторів на особливості форми та просторової орієнтації поверхневих острівців. Показано, що острівці є куполоподібними зі змінюваним відношенням їх висоти до латерального діаметра. Виявлено слабку залежність симетрії острівців від використаних умов осадження. Індекс рубрикатора НБУВ: В371.211 + К663.030.022-1
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26618 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|