Дослідження спрямовано на розробку оптимальних і квазіоптимальних методів оцінювання параметрів статистично нерівних поверхонь за їх спекл-інтерференційними зображеннями. Показано, що перспективною є розробка безконтактних оптичних методів і пристроїв для оцінювання параметрів статистично нерівних поверхонь. Однак, існуючі методи оцінювання параметрів шорстких поверхонь не надають можливість реалізувати такі вимірювачі. Набула подальшого розвитку математична модель дрібномасштабної статистично нерівної поверхні. Розроблено оптимальний та квазіоптимальні методи оцінювання параметрів статистично нерівних поверхонь. Розроблені методи дозволяють реалізувати прилади для безконтактного оцінювання параметрів шорстких поверхонь.

• Шматко Олександр Олександрович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"