Проведены рентгеновские исследования поликристаллического и компактированного давлением порошка манганита бария Ba6Mn24O48 при комнатной и низких температурах. Установлено существенное влияние на дифракционную картину процесса компактирования, приводящего к накоплению в образцах макро- и микронапряжений. Получены данные о температурной зависимости параметров решетки a и c, а также коэффициента линейного теплового расширения в базисной плоскости тетрагональной фазы в интервале температур 20 - 100 K. В области температуры магнитного фазового перехода 45 K обнаружены аномальное изменение параметра решетки a и отрицательные значения коэффициентов линейного теплового расширения <$E alpha sub a>. Особенностей на зависимости c(T) при этом не наблюдается. Высказаны возможные причины такого температурного поведения структурных и тепловых характеристик манганита бария, связанные со значительной анизотропией кристаллической решетки.

 Наукова періодика України 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"