РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000605096<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Крилик Л. В. 
Надійність та стандартизація приладів мікро- і наноелектроніки : навч. посіб. / Л. В. Крилик, О. О. Селецька; Вінниц. нац. техн. ун-т. - Вінниця, 2016. - 131 c. - Бібліогр.: с. 131 - укp.

Висвітлено актуальні питання аналізу надійності мікроелектронних приладів. Подано основні терміни та визначення, які відносяться до надійності в техніці. Викладено методи оцінювання показників надійності мікроелектронних приладів, розглянуто основні види та механізми їх відмов.


Індекс рубрикатора НБУВ: З844.1 я73 + З85 я73

Рубрики:

Шифр НБУВ: ВА802343 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського