Исследованы гранулированные композиционные пленки на основе BaB₆ - LaB₆, Sn_0,9Sb0,1O₂ и алюмоборосиликатного стекла, изготовленные с помощью метода трафаретной печати с последующей термообработкой. Для определения толщины наноразмерных диэлектрических прослоек между частицами токопроводящей фазы, которые предопределяют механизм электропроводности и свойства пленок, использован оригинальный расчетный метод. Для оценки достоверности полученных результатов пленочные структуры исследованы с помощью метода атомной силовой микроскопии. Расчетные данные находятся в хорошем соответствии с экспериментом. Метод может быть использован при исследовании структуры и свойств новых композиционных материалов проводник - диэлектрик.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"