Фодчук І. М. Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів / І. М. Фодчук, М. Д. Борча, В. Ю. Хоменко, С. В. Баловсяк, В. М. Ткач, О. О. Стаценко // Сверхтвердые материалы. - 2016. - № 4. - С. 67-73. - Бібліогр.: 13 назв. - укp.Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, одержаного методом температурного градієнта в системі Fe - Al - C нарощуванням на монокристал алмазу, синтезованого у системі Ni - Mn - C. Побудовано характеристичні поверхні тензорів та еліпсоїди деформацій, проаналізовано особливості їх розподілу по кристалу. Діагональні компоненти тензора визначали зі змін розподілів інтенсивності окремих смуг, інші компоненти - зі зміщення осей зон відносно їх положень на еталонній картині Кікучі. Індекс рубрикатора НБУВ: Л463.8
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14159 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|