Коваленко Д. А. Исследование внутренних механических напряжений, возникающих в структурах Si - SiO2 - ЦТС / Д. А. Коваленко, В. В. Петров // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2015. - 7, № 3. - С. 03036-1-03036-5. - Библиогр.: 13 назв. - рус.Описаны исследования направленные на выявление механизмов роста сегнетоэлектрических тонких пленок цирконата-титаната свинца (ЦТС) на окисленных кремниевых подложках. Показано, что скорость роста сегнетоэлектрической пленки составляет порядка 15 - 18 нм/мин, а пленки формируются по механизму Странски - Крастанова. Приведены результаты теоретических исследований внутренних механических напряжений, возникающих в связи с разницей в коэффициентах термического расширения материалов кремниевой подложки, подслоя оксида кремния и пленки ЦТС. Представлены результаты экспериментальных исследований внутренних механических напряжений, показавшие их хорошее совпадение с результатами расчетов в диапазоне толщин пленок ЦТС 100 - 300 нм. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.26 + В379.371.702
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|