Розкрито дисперсійну природу нового фізичного явища підсилення на порядки величини прояву недосконалостей структури кристалів у картині багатократного розсіяння випромінення. Показано, що у випадку багатократного розсіяння виникає новий механізм впливу недосконалостей структури кристалу не лише, як у кінематичній картині, на амплітуди розсіяних хвиль (амплітудний механізм), а і на модулі їх хвильових векторів (дисперсійний механізм, який і забезпечує суттєве підвищення структурної чутливості). Показано, що саме відкритий дисперсійний механізм не лише до п'яти порядків величини збільшує чутливість діагностики дефектів, а також забезпечує появу структурночутливих залежностей картини багатократного розсіяння від різних умов дифракції, взаємопов'язаних як між собою, так і з залежностями від характеристик дефектів. Це збільшує інформативність, зокрема забезпечує можливість багатопараметричної діагностики, що принципово відсутнє у кінематичному випадку та суттєво змінює результати класифікації дефектів за Кривоглазом і призводить до їх залежності від умов та методів дифрактометрії. Тим самим створено основи дисперсійної (високочутливої й інформативної) діагностики недосконалостей структури кристалічних багатопараметричних систем.

• Скапа Людмила Миколаївна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"