Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000628409<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Корнієнко С. В. Вплив електроміграції на кінетику реакційної дифузії в системі Cu - Sn / С. В. Корнієнко, Д. О. Зраєв // Металлофизика и новейшие технологии. - 2016. - 38, № 10. - С. 1293-1302. - Бібліогр.: 25 назв. - укp.Проведено експериментальне дослідження реакційної дифузії в системі Cu - Sn під дією постійного електричного струму густиною у 7,3 · 107 А/м2. Особливістю експерименту було те, що конструкція досліджуваного зразка виключала можливість перенесення атомів купруму від катода до анода через спільний прошарок цини. За таких умов ріст фази Cu3Sn + Cu6Sn5 на аноді відбувається швидше, ніж на катоді. Кінетика росту відповідає лінійному часовому закону Δ x ∝ t. З використанням моделі процесу реакційної дифузії під час електроміграції проведено аналіз одержаних експериментальних результатів. Індекс рубрикатора НБУВ: К232.043.2 + Г534.511
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|