Розкрито проблеми підвищення ефективності та функціональних можливостей експериментальних досліджень шляхом розробки експериментально-розрахункових оптичних методів визначення напружено-деформованого стану (НДС) і граничного стану прозорих діелектриків на основі аналізу параметрів тензора діелектричної проникності (ТДП). Теоретично обгрунтовано й експериментально підтверджено новий метод визначення НДС, який використовує п'єзооптичний ефект поглинаючого середовища - метод поглинання (МП), одержано формули визначення коефіцієнта інтенсивності напружень (КІН) за даними МП. Запропоновано новий метод визначення НДС, який базується на ефекті методу дифузного поверхневого розсіювання (МДПР), одержано формули визначення КІН (моментів) за допомогою цього методу, а також сумісним вимірюванням даних МДПР та фотопружності. Розроблено та реалізовано модель оптичного тензодатчика, який працює на основі МДПР, обгрунтовано застосування методу для оцінювання "зони шийкоутворення" біля вершини тріщини. Розвинуто поляризаційно-оптичний метод для розв'язання таких задач експериментальної механіки руйнування, як визначення КІН К_I, К_II, К_III для неоднорідного основного напруженого стану та малих за величиною (до 1λ) картин оптичної анізотропії, для випадків великих різниць оптичного ходу (> 8λ) та значних градієнтів, коли важко визначити нульову ізохрому. Розроблено фізико-механічний критерій граничного стану діелектриків - критерій ТДП, експериментально досліджено, згідно з критерієм ТДП, граничний стан пластин з оргскла й оболонок з епоксидної смоли з тріщинами. За допомогою модифікованих методик поляризаційно-оптичного методу та розробленого фізико-механічного критерію ТДП проведено комплексне дослідження напруженого та граничного станів багатошарових структур (триплексів) за температури Т = 213 К і за можливої наявності тріщиноподібних дефектів у їх складових частинах (елементах).

• Рудяк Юрій Аронович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"