Кругляк Ю. О. Вимірювання провідності й аналіз електрофізичних характеристик транзисторів у рамках узагальненої моделі транспорту електронів / Ю. О. Кругляк, М. В. Стріха // Сенсор. електроніка і мікросистем. технології. - 2017. - 14, № 2. - С. 27-45. - Бібліогр.: 27 назв. - укp.Обговорено експериментальні методи вимірювання опору в узагальненій моделі транспорту електронів Ландауера - Датта - Лундстрома (ЛДЛ), зокрема, за умов прикладання зовнішнього магнітного поля: метод змінної довжини провідника, чотириточкову схему вимірювань, класичний метод вимірювання ефекту Холла й різні варіанти методу ван дер Пау, а також температурні вимірювання й урахування артефактів (ефект Нерста), вимірювання в сильних магнітних полях (ефект Шубнікова - де Гааза). Індекс рубрикатора НБУВ: З852.3
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж24835 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|