За допомогою методу високотемпературної рентгенівської дифрактометрії та обернененого методу Монте-Карло досліджено структуру ближнього порядку рідкої евтектики Sn-Bi в інтервалі температур 420 - 1120 К. Одержано температурні залежності міжатомних відстаней у межах першої координаційної сфери та об'ємного коефіцієнта термічного розширення. Використовуючи формалізм статистично-геометричного методу Вороного - Делоне досліджено зміну вільного об'єму зі зміною температури. Проведені дослідження надали змогу встановити наявність розмитого структурного перетворення рідкої евтектики та визначити температурну межу цього перетворення. Результати досліджень можуть бути використані для вдосконалення технології формування паяних з'єднань в електроніці та інших суміжних галузях.

• Штаблавий Ігор Іванович (фізико-математичні науки)
• Мудрий Сергій Іванович (медичні науки)
• Мудрий Степан Іванович (фізико-математичні науки)
• Людкевич Уляна Іванівна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"