Конуп И. П. Детектирование биосульфактантов на поверхности нанопористого кремния / И. П. Конуп, Т. В. Гудзенко, Л. А. Конуп, О. В. Волювач // Мікробіологія і біотехнологія. - 2017. - № 3. - С. 84-92. - Библиогр.: 14 назв. - рус.Цель работы - исследование взаимодействия некоторых природных и полусинтетических поверхностно-активных веществ (ПАВ) с поверхностью полупроводниковых структур на основе нанопористого кремния (нано-ПК). Образцы нано-ПК с высоким уровнем легирования (КтС-0,01) были получены с помощью метода анодного электрохимического травления монокристаллического кремния в электролите на основе 48 %-ного водного раствора фтористо-водородной кислоты. Низкое сопротивление контактов определялось отжигом (<$E450~symbol Р roman C>) образцов нано-ПК с нанесенными на них алюминиевыми контактами. Детектирование проводили для биосурфактантов: саркозила (натрий лаурилсаркозин), рамнолипида (рамнозо- ди beta-гидроксидеканоеновая кислота) и циклогептадекановой кислоты. Изучено взаимодействие биосурфактантов с поверхностью нано-ПК. Показано, что эти соединения существенно влияют на вольтамперные характеристики (ВАХ) образцов нано-ПК. В рамках адсорбционной модели объяснено взаимодействие исследованных ПАВ с нано-ПК. Изменение ВАХ образцов нано-ПК при нанесении супрамолекулярных объектов связано с наполнением нанопор этими макромолекулами, обладающими значительной диэлектрической проницаемостью. Показано, что влияние изученных ПАВ на электрические параметры нано-ПК имеет характерные особенности для каждого из исследованных соединений, что позволяет дифференцированно идентифицировать различные ПАВ сенсорами на основе нано-ПК. Вывод: физическая причина изменения ВАХ образцов нано-ПК при нанесении биосурфактантов связана с наполнением нанопор кремния мультиламеллярными структурами ПАВ. Сложный вид ВАХ при адсорбции саркозила, рамнолипида, циклогептадекановой кислоты определяется гетеропереходами между планарными алюминиевыми контактами и наноструктурами кремния, и изменениями в области микробарьеров, сформированных между нитевидными кристаллами поверхности нано-ПК. Індекс рубрикатора НБУВ: Е40*871
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж25976 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|