Теоретично досліджено п'ятишаровий плазмонний сенсор із шаром наночастинок і неоднорідним шаром рідкого кристалу. Розраховано коефіцієнт відбивання як функцію кута падіння за різних значень показника заломлення аналіту та прикладеної до рідкого кристалу (РК) напруги. Змінюючи орієнтацію директора рідкого кристала, можна контролювати положення мінімумів кривих відбивання та вибрати той, що є найбільш чутливим до показника заломлення аналіту. За вибраного кута падіння показник заломлення аналіту може бути визначений за значенням коефіцієнта відбивання. Вплив переорієнтації директора є сильнішим, коли значення показника заломлення призми є між звичайним і незвичайним показниками заломлення РК, в цьому випадку збільшення напруги та зменшення показника заломлення призми мають подібний вплив на форму кривої відбивання.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"