Wang C. P. Electron backscatter diffraction analysis of the microstructure fineness in pure copper under torsional deformation = Анализ дифракционной картины обратного рассеяния электронов для изучения микроструктуры чистой меди при деформации кручения / C. P. Wang, J. K. Fan, F. G. Li, J. C. Liu // Проблеми міцності. - 2018. - № 1. - С. 106-111. - Бібліогр.: 13 назв. - англ.Деформация кручения рассмотрена как перспективный метод получения градиентных конструкционных материалов. Чистую медь подвергали большим пластическим деформациям при кручении. Для изучения микроструктурных изменений использован дифракционный анализ (EBSD). Показано, что большеугловые границы зерен и разориентировка увеличиваются с ростом степени деформации, зерна более мелкие и однородные. Микроструктура в полосе сдвига имеет выраженную преимущественную ориентировку. Направление кристалла <<110>> параллельно направлению сдвига, а кристалл {111} наклонен к поверхности плоского сдвига. Брус, подвергнутый кручению, имеет латунную текстуру {011}<<211>>, гауссову текстуру {011}<<100>> и более прочную медную текстуру {112}<<111>>. Індекс рубрикатора НБУВ: К232.104
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж61773 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|