Барабаш М. Ю. Голографическая интерферометрия как способ определения качества наноструктурных покрытий / М. Ю. Барабаш, Р. В. Литвин, Д. С. Леонов, А. А. Колесниченко, В. Е. Мартынчук, Л. В. Рябов // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр.. - 2018. - 16, вип. 1. - С. 153-166. - Библиогр.: 14 назв. - рус.Рассмотрены существующие оптические методы неразрушающего контроля качества материалов и наноструктурных покрытий. Показано, что голографические интерферометрические методы обеспечивают высокую точность измерений, простоту интерпретации данных и возможность их использования при контроле широких ассортиментов материалов. Приведена методика цифровой записи голографических и интерферометрических картин с последующей компьютерной обработкой результатов и получением фазового портрета объектов. Описана физическая природа голограмм, принципы их моделирования для повышения механических свойств материалов и покрытий. Індекс рубрикатора НБУВ: Ж607 с108 + К663.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|