Pershyn Yu. P. Application of carbon as a barrier layer in Sc/Si multilayer X-ray mirrors = Використання вуглецю як бар'єрного шару у багатошарових рентгенівських дзеркалах Sc/Si / Yu. P. Pershyn, I. Yu. Devizenko, V. S. Chumak, A. Yu. Devizenko, V. V. Kondratenko // Functional Materials. - 2018. - 25, № 3. - С. 505-515. - Бібліогр.: 18 назв. - англ.За допомогою методів рентгенівської рефлектометри в жорсткій рентгенівській області (<$Elambda~=~0,154> нм) досліджено бар'єрні властивості вуглецевих шарів товщиною 0,2 - 1,3 нм у багатошарових рентгенівських дзеркалах (БРД) Sc/Si, одержаних прямоточним магнетронним розпиленням. Прецизійне вимірювання періоду надало змогу зафіксувати об'ємні зміни в БРД Sc/C/Si з точністю краще, ніж 0,01 нм, за рахунок чого встановлено взаємодію вуглецевих шарів із матеріалом матричних шарів. Виявлено формування карбідних (межі Si-на-Sc) і карбідно-силіцидних (межі Sc-на-Si) шарів. Проведено оцінку відбивної здатності дзеркал Sc/C/Si на довжині хвиль <$Elambda> ~ 46,9 нм. Індекс рубрикатора НБУВ: В342.8
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|