Liubchenko O. I. Simulation of X-ray diffraction spectra for AlN/GaN multiple quantum well structures on AlN(0001) with interface roughness and variation of vertical layers thickness = Моделювання рентгенодифракційних спектрів від структур с множинними квантовими ямами AlN/GaN на AlN(0001) із врахуванням шерсткості та варіації товщини шарів за глибиною / O. I. Liubchenko, V. P. Kladko // Metallophysics and Advanced Technologies. - 2018. - 40, № 6. - С. 759-776. - Бібліогр.: 38 назв. - англ.Проведено детальний аналіз структур із множинними квантовими ямами (МКЯ) AlN/GaN, вирощених на підкладинках AlN(0001). Досліджено вплив шерсткості та зміни товщини шарів структури з МКЯ по глибині на <$E2 theta - omega>-скани, виміряні в Брегговій геометрії дифракції для симетричних рефлексів. Показано, що зміна товщини квантових ям і бар'єрів по глибині призводить до асиметричного розширення сателітних піків МКЯ на <$E2 theta - omega>-сканах. Шерсткість спричиняє симетричне розширення піків, що уможливлює розрізнення впливу цих ефектів. Розглянуто кілька причин асиметричного розширення сателітних піків: зміну товщини періоду, зміну середнього параметра гратниці періоду, який залежить від співвідношення товщин шарів періоду, та їх комбінації. Ефективність розробленого методу показано шляхом числового моделювання рентгенівських спектрів. Індекс рубрикатора НБУВ: В371.21
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|