Гайдар Г. П. До методології визначення тензоопору n-Ge та n-Si у кристалографічних напрямках <<110>> / Г. П. Гайдар // Доп. НАН України. - 2019. - № 5. - С. 67-74. - Бібліогр.: 15 назв. - укp.У межах теорії анізотропного розсіяння для багатодолинних напівпровідників n-Ge та n-Si одержано корисні для практичного застосування вирази, які надають змогу розраховувати значення тензоопору в насиченні для кристалографічних напрямків, де цей ефект є незначним, за результатами вимірювання тензоопору в інших кристалографічних напрямках, де вказаний ефект є значним за величиною. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.2
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|