Pavliuchenko A. M. The wall temperature measurement and effects on the missile complex surfaсe based on the semiconductor diode and electronic system = Вимірювання температури стінки і ефекти на поверхні ракетного комплексa на основі напівпровідникового діода і електронної системи / A. M. Pavliuchenko, O. M. Shyiko, T. I. Klochkova // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2019. - 11, № 3. - С. 03004-1-03004-7. - Бібліогр.: 10 назв. - англ.Розв'язано проблему вимірювання з високою точністю температури стінки головної частини ракетного аерофізичного комплекса в польоті по траєкторії до висоти <$EH~symbol Г~8> км за умов зміни чисел Маха <$EM sub inf ~symbol Г~2,0>, Рейнольдса <$ERe sub {L,~inf } ~symbol Г~2~cdot~10 sup 7>, неізотермічності, роботи реактивного двигуна на твердому паливі (РДТП), прискорення <$Ea~symbol Г~>12g, що одночасно не моделюються в сучасних надзвукових аеродинамічних установках. Для вимірювання температури стінки цього об'єкта із різних матеріалів по довжині головної частини використовувались напівпровідникові діоди КД-521. Чутливість КД-521 складала 2,5 мВ/град. Бортова електронна і телеметрична системи мали високий рівень швидкісної дії і точності. Опитування напівпровідникових діодів КД-521 здійснювалось послідовно в часі через 5 мс, а похибка вимірювання температури стінки головної частини комплекса не перевищувала 1 %. Бортова електронна, телеметрична системи, напівпровідникові діоди КД-521 і дані про температуру стінки по довжині головної частини надали змогу розв'язати складні аерофізичні проблеми, пов'язані з безвідривним і відривним надзвуковим обтіканням головної частини ракетного комплекса за умов ламінарно-турбулентного переходу у пристінній течії - за взаємодії його з відривним обтіканням стінки. Індекс рубрикатора НБУВ: О63-082.051
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|