Jeroh D. M. Growth of Europium-doped magnesium selenide films by electric field-assisted spray pyrolysis: optical and structural analysis = Pіст магнієвоселенідних плівок, легованих європієм методом спрей-піролізу в електричному полі: оптичний і структурний аналіз / D. M. Jeroh, A. J. Ekpunobi, D. N. Okoli // East Europ. J. of Physics. - 2018. - № 4. - С. 13-21. - Бібліогр.: 24 назв. - англ.Плівки MgSe, леговані європієм, формувались за допомогою піролізу в електричному полі. Об'ємна концентрація домішки у розчині триоксиду європію становила 5 wt. %. Проте під час легування плівок за різних температур субстрату, кожного разу використовувався об'ємний відсоток (vol. %). Варіація температури напилення становила близько 573 і 673 К (<$Esymbol С~0,3>). Осадження відбувалося за оптимізованих умов. Спектри абсорбції свідчать про слабкі поглинальні характеристики, продемонстровані плівками, що містять оксид MgSe, в ультрафіолетовій області та дуже низькі характеристики поглинання у видимому діапазоні. Піки поглинання спостерігались навколо 230, 240, 350 та 365 нм, що підтверджує наявність дефектів всередині кристалічної структури плівок. Плівки демонстрували високу прозорість і низькую здатність до відбиття у видимому діапазоні за різних температур підкладки. Висока прозорість, виявлена плівками MgSe:Eu у видимому діапазоні електромагнітного спектра, робить матеріал придатним як шар покриття для виготовлення прозорих виробів. Дію плівок MgSe:Eu було визначено ширини енергетичної зони в межах від 2,49 до 2,95 еВ, що відповідала різним температурам підкладки (573, 598, 623, 648 і 673 К) та товщин плівок (2900, 2750, 2500, 2100, 200 нм). Проте, спостереження чітко показує, що ширини енергетичної зони зразків плівок MgSe:Eu в основному залежать від товщини, так що одержані ширини енергетичної смуги зменшуються з збільшенням товщини (ширина смуги зростає зі зменшенням товщини). За результатами структурного аналізу (XRD), проведеного для концентрацій 10 та 40 % Eu встановлено гексагональну (або вурцітну) структуру для плівок із порушенням кристалічності за більш високої концентрації домішки (40 об %) і як наслідок синій зсув константи решітки у порівнянні з об'ємним значенням. Кілька площин відбиття від шару XRD нанесених плівок MgSe:Eu чітко показують, що плівки є полікристалічними. Поверхнева морфологія (SEM) підтверджує високу напруженість і наявність дефектних станів у кристалічній решітці плівок MgSe, що містять сплави Європію. Структура плівок MgSe:Eu, одержаних за допомогою енергетичного дисперсійного аналізу рентгенівського випромінювання (EDAX), підтверджує ріст плівок MgSe:Eu. Індекс рубрикатора НБУВ: Ж619 + В372.1 + В374
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж43925 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|