Представлены спектральные зависимости пропускания слоев селена (толщины слоев Se: 630 нм, 1030 нм), изготовленных с помощью метода термического напыления в области 500 - 900 нм. Из спектров пропускания были получены оптические константы слоев Se: показатель поглощения составляет <$E 9~cdot~10 sup 4~roman см sup -1> для записывающей длины волны 532 нм. Используя спектральную зависимость показателя поглощения в квадратичных координатах (метод Тауца) было получено значение оптической запрещенной зоны <$E roman {E sub g sup opt}> 1,92 эВ. Приведены параметры одноосцилляторной модели для слоев Se. Представлены спектры комбинационного рассеяния пленок Se, в них доминирует пик при 251 см<^>-1 , что связывается с растягивающими колебаниями в фрагментах Se8, а также в цепочечных фрагментах и более слабые полосы при 80 и 109 см<^>-1. Из разностных спектров КР представленных в данной статье видно, что структура пленок Se меняется под действием света. С увеличением экспозиции увеличивается интенсивность полосы 235 см<^>-1, а интенсивность полосы 251 см<^>-1 уменьшается, что также характерно и для полос 80 и 109 см<^>-1. Плечо, которое появляется при 235 см<^>-1 может быть связано с присутствием малой фракции "чистых" геликоидных цепочек. Для записи голографических дифракционных решеток с периодом 1 мкм использовалось излучение DPSS лазера на длине волны 532 нм и пленки Se в качестве регистрирующей среды. Одновременно с записью дифракционных решеток проводилось измерение дифракционной эффективности решеток в первом порядке дифракции на пропускание с использованием излучения лазерного диода на длине волны 650 нм. Получены решетки с коэффициентом дифракционной эффективности 22 %. Профиль рельефа был близок к синусоидальному. Показано, что импульсоподобная запись позволяет получать дифракционные решетки с достаточно высокой эффективностью в пропускании (22 %) при использовании слоев Se как регистрирующих сред. Глубина рельефа решеток составляла ~ 140 нм. Получено хорошее соответствие экспериментальных величин дифракционной эффективности решеток в пропускании и теоретических (расхождение ~ 6 %).

• Акімова Олена Володимирівна (економічні науки)
• Стронський Олександр Володимирович (фізико-математичні науки)
• Горонескуль Віктор Юрійович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"