Стадник Б. І. Метрологічна надійність термоелектричного наносенсора квантового еталона температури / Б. І. Стадник, С. П. Яцишин, Т. Фрьоліх, М. М. Микийчук, Я. Т. Луцик, П. І. Скоропад // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб.. - 2018. - Вип. 79 (ч. 2). - С. 20-28. - Бібліогр.: 15 назв. - укp.Можливість упровадження еталона квантової температури потребує зосередження уваги на перетворювальному елементі I - T як унікальному електронному пристрою, що підлягає істотним навантаженням під час роботи. Враховуючи його нанорозмірність, оскільки елемент виготовляють на основі CNTFET конструкції, трансформуючи її у нанорозмірний термоелектричний перетворювач (стік та витік) із надпровідним затвором, ми передбачаємо особливо жорсткі вимоги до цього елемента. Вирішити цю проблему можна з залученням інженерії еластичних напружень, яку раніше успішно застосовували для масштабування процесів виготовлення багатозатворних комплементарних польових транзисторів. Індекс рубрикатора НБУВ: З322-503
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж70321 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|