РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000723525<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Vashchenko V. A. 
Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics / V. A. Vashchenko, I. V. Yatsenko, Yu. I. Kovalenko, V. P. Kladko, O. Yo. Gudymenko, P. M. Lytvyn, A. A. Korchovyi, S. V. Mamykin, O. S. Kondratenko, V. P. Maslov, H. V. Dorozinska, G. V. Dorozinsky // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2019. - 22, № 4. - С. 444-451. - Бібліогр.: 19 назв. - англ.

Electron-beam treatment the glass substrates for sensitive elements of SPR devices causes almost two-fold narrowing their refractometric characteristics from 0,867 down to 0,453 deg. The angular shift was also changed, which made the measuring range wider by 0,37 deg. The sensitivity of SPR devices increased by 1,7 times from 1,425 up to 2,396 deg<^>-1 as a consequence of lowering the energy expenses during propagation of surface plasmons along the boundary "metal-air". The reason for this lowering is related to higher surface uniformity of the gold metal fdm, its higher density as well as lower nanoroughness of the glass surface and the thickness of heterointerface "gold-air". In this case, the dispersion value for unevenness heights on the surface relatively to the base line was lowered from <$Esymbol С~18> down to <$Esymbol С~5> nm, mean-square roughness was three-fold reduced from 4,67 down to 1,64 nm, and the thickness of heterointerface gold-air was lowered from 3,26 down to 1,37 nm. It was ascertained using X-ray reflectometry that the film density increased from 17,2 up to 19,3 g/cm<^>3 and reached the value typical for the bulk gold. It provided the changes in the refraction index and extinction coefficient of the gold film, which was ascertained using the ellipsometric method. Thus, the performed analysis of refractometric characteristics showed that electron-beam treatment the glass substrates of sensitive elements for SPR devices is able to efficiently enhance their sensitivity and to widen the range of measured resonance SPR angles.


Індекс рубрикатора НБУВ: В371.35 + В343.54

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Повний текст  Наукова періодика України 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського