РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000724875<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Круковський Р. С. 
Модифікація гальваномагнітних властивостей багатошарових структур на основі GaAs, InP, InAs для елементів пристроїв електронної техніки : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.06 / Р. С. Круковський; Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Львів, 2015. - 21 c. - укp.

Проведено експериментальне дослідження спільного впливу ізовалентних та амфотерних домішок і модуляції параметрів технологічного процесу на гальваномагнітні параметри бінарних сполук GaAs, InP, InAs та їх твердих розчинів. Розроблено та реалізовано технологічні основи кристалізації епітаксійних шарів і структур GaAs(AlGaAs) на підкладках GaAs з кристалографічною орієнтацією (111 А) методом МОС-гідридної епітаксії за зниженого тиску. Показано, що модуляції газового потоку елемента третьої групи при осадженні шарів GaAs та AlGaAs за низьких температур 580 - 610 °С забезпечує формування високоякісної морфології поверхні без пірамідальних структурних дефектів. Розроблено технологічні аспекти кристалізації контактних багатошарових структур на основі GaAs, легованих ізовалентними та донорними домішками з використанням методу низькотемпературної рідиннофазної епітаксії за модуляції швидкості зниження температури. Встановлено, що градієнтний розподіл електронів у контактному шарі з концентрацією електронів до 1·10{\up\fs8 19} см{\up\fs8 -3} на поверхні формується завдяки зростанню коефіцієнта сегрегації телуру через різке кероване збільшення швидкості зниження температури охолодження. Досліджено вплив магнію, доданого в мікроконцентраціях (0,07 - 0,12 ат%) у вісмутові та індієві розплави. Встановлено ефект очистки шарів n-InAs, які одержані методом рідиннофазної епітаксії (РФЕ) з вісмутових та індієвих розплавів під впливом мікроконцентрацій акцепторної домішки Mg (0,07 - 0,12 ат%). Встановлено існування точки інверсії провідності з p- на n-тип поблизу значення температури 800 ± 10 °С в епітаксійному шарі InAs, кристалізованому в інтервалі температур 880 - 630 °С методом РФЕ з індієвого розчину-розплаву, легованого кремнієм (0,4 - 1,8 ат%) та алюмінієм (0,4 - 1,8 ат%). Розроблено технологію формування однорідного профілю розподілу концентрації електронів в активних некомпенсованих епітаксійних шарах InP методом РФЕ, що поєднує модуляцію швидкості зниження температури з впливом ітербію та алюмінію на неконтрольовані домішки в розплаві індію.


Індекс рубрикатора НБУВ: З843.3 + З85-03

Рубрики:

Шифр НБУВ: РА413790 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського