Розглянуто сучасні методи дослідження властивостей наноматеріалів, основні питання метрології наномасштабних вимірювань, їх нестабільності, точності та невизначеності з акцентом на її прикладні аспекти. Наведено загальну характеристику методів дослідження наноструктур. Увагу приділено роздільній здатності растрового електронного мікроскопа. Описано етапи оцінки похибок і невизначеностей. Подано інформацію про атомний спектральний метод, радіоспектроскопію, рентгеноспектроскопію та позитронну анігіляційну спектроскопію. Наведено класифікацію методів хроматографії. Охарактеризовано атоми, молекули та нанокластери як розсіювальні центри. Розглянуто особливості оптичної, електронної, позитронної та скануючої зондової мікроскопії. Досліджено біосенсори на основі поверхневого плазмонного резонансу.

• Коротун Андрій Віталійович (фізико-математичні науки)
• Коржик Володимир Миколайович (1958–) (технічні науки)
• Рубіш Василь Михайлович (фізико-математичні науки)
• Петров Валентин Володимирович (національна безпека)
• Петров Владислав Вікторович (технічні науки)
• Петров Віктор Володимирович (технічні науки)
• Петров Віктор Вікторович (технічні науки)
• Крючин Андрій Андрійович (1948–) (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"