Викладено наукові основи метрологічного забезпечення (МЗ) теорії контролю якості продукції (ЯП). Висвітлено метрологічні аспекти забезпечення якості роботи пристроїв і систем, комп'ютерні технології статистичної обробки результатів контролю та питання метрологічної експертизи технічної документації. Детально розглянуто розвиток наукових підходів до забезпечення контролю ЯП, достовірності результатів вимірювального процесу. Визначено основні напрями для вирішення проблем в області МЗ ЯП. Наведено приклади застосування статистичних методів для розв'язання конкретних задач МЗ контролю ЯП із використанням комп'ютерних технологій, показано практичне застосування програмного пакету STATISTICA. Викладено методики оцінки достовірності результатів контролю для нормальних законів розподілу контрольованих параметрів і похибок вимірювання. Розроблено докладну методику розрахунків за довільних законів розподілу, а також спосіб обліку кореляційних зв'язків окремих параметрів у випадку багатопараметричного контролю.

• Туз Юліан Михайлович (технічні науки)
• Левківський Казимир Михайлович (1950–) (історичні науки)
• Томашевський Олександр Володимирович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"