Экспериментально исследованы особенности оптического поглощения и перколяции в тонких плёнках серебра различной толщины (2 - 20 нм). Также изучено влияние подслоёв кремния толщиной 0,5 нм в видимом и ближнем инфракрасном диапазонах длин волн (300 - 2500 нм) на плёнки серебра. Перколяционные явления в исследуемых тонких плёнках серебра обусловлены особенностями механизма роста и режимом формирования плёнки на аморфной стеклянной подложке. Показано, что подслои кремния массовой толщиной 0,5 нм уменьшают на <$E DELTA d~=~5,5> нм пороговую толщину dc плёнок серебра, при которой перколяционный переход проявляется в оптических свойствах системы, что обусловлено более мелкокристаллической структурой плёнки серебра, сформированной на поверхности Si, и увеличением количества металлических островков на единицу площади подложки.

• Бігун Роман Іванович (фізико-математичні науки)
• Стасюк Зиновій Васильович (технічні науки)
• Гаврилюх Василь Миронович (фізико-математичні науки)
• Леонов Дмитро Сергійович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"