 Книжкові видання та компакт-диски  Журнали та продовжувані видання  Автореферати дисертацій  Реферативна база даних  Наукова періодика України  Тематичний навігатор  Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000744398<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Borcha M. D. Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data / M. D. Borcha, M. S. Solodkyi, S. V. Balovsyak, V. M. Tkach, I. I. Hutsuliak, A. R. Kuzmin, O. O. Tkach, V. P. Kladko, O. Yo. Gudymenko, O. I. Liubchenko, Z. Swiatek // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2019. - 22, № 4. - С. 381-386. - Бібліогр.: 26 назв. - англ.The structural homogeneity and degree of perfection inherent to mosaic Ge:Sb samples were investigated. The modified methods for analyzing diffraction images of backscattered electrons (Kikuchi patterns) were used to reduce the influence of instrumental factors. The root-mean-square deformations in the local regions of separate grains and at the boundaries between them were determined using the value of the spatial frequency of the energy spectrum of two-dimensional Fourier transform of Kikuchi patterns. It is shown that the maximum values of deformations (~<$E3,5~cdot~10 sup -3>) are typical for local regions, which are usually located at the boundaries between subgrains. X-ray studies confirm obtained values of root-mean-square deformations. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.2 + В346.34
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|