Кругляк Ю. О. Фізика нанотранзисторів: розсіяння електронів і модель проходження MOSFET / Ю. О. Кругляк, М. В. Стріха // Сенсор. електроніка і мікросистем. технології. - 2020. - 17, № 2. - С. 16-34. - Бібліогр.: 20 назв. - укp.У сьомій із нової серії методично-оглядових статей, орієнтованих на дослідників, студентів, аспірантів та викладачів вищої школи, докладно розглянуто якісну картину явищ розсіяння електронів у каналі провідності нанотранзисторів. При цьому розгляді ключовим є поняття коефіцієнту проходження T(E), який записується через середню довжину вільного пробігу щодо розсіяння назад <$E lambda>(E) і довжину каналу провідності L. Узагальнена теорія електронного транспорту Ландауера - Датта - Лундстрома дозволила побудувати модель проходження MOSFET з урахуванням розсіяння електронів. Індекс рубрикатора НБУВ: З852.3
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж24835 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|