Bordun O. M. Morphology of thin films Y2O3:Eu obtained by different methods / O. M. Bordun, I. O. Bordun, I. M. Kofliuk, I. Yo. Kukharskyy, I. I. Medvid, Zh. Ya. Tsapovska, D. S. Leonov // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр.. - 2020. - 18, вип. 1. - С. 53-58. - Бібліогр.: 11 назв. - англ.За допомогою методу високочастотного (ВЧ) іонно-плазмового розпорошення в атмосфері аргону та дискретного випаровування у вакуумі одержано тонкі плівки Y2O3:Eu. Дослідження морфологій поверхні тонких плівок з використанням методу атомно-силової мікроскопії (АСМ) показало, що за переходу від ВЧ-розпорошення до дискретного випаровування зростає середня квадратична шерстність поверхні за близьких величин діаметрів нанокристалічних зерен на поверхні плівок. Встановлено, що розподіл зерен за діаметром у разі ВЧ-розпорошення відповідає нормальному логаритмічному розподілу з одним центром розподілу, а за дискретного випаровування - з двома центрами розподілу. Співвідношення центрів розподілу вказує на зрощування зерен між собою. Індекс рубрикатора НБУВ: К663.6-18
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|