Показано принципову можливість швидкої ідентифікації матеріалів за співвідношенням інтенсивності некогерентного і когерентного розсіювання IC/IR. На відміну від традиційного рентгенофлуоресцентного аналізу ідентифікація можлива за відсутності взаємозв'язку між положеннями піків розсіювання і складом зразка, а якісний і кількісний аналіз складу матеріалу проводяться у межах розв'язання однієї оберненої задачі. Метод заснований на залежності співвідношення IC/IR від ефективного атомного номера матеріалу розсіювача і умов реєстрації спектра (змінна перенесення імпульсу <$Ex~=~sin theta "/" lambda>). Експерименти проведено для однокомпонентних матеріалів з атомним номером Z від 4 (Be) до 31 (Ga) і бінарних сполук стехіометричного складу за двох значень <$Ex sub 1 ~=~0,831~{ roman A back 45 up 35 symbol Р} sup -1> та <$Ex sub 2 ~=~1,297~{ roman A back 45 up 35 symbol Р} sup -1> за допомогою спектрометра WDXRF. Набір калібрувальних функцій IC/IR(Z, x) надає змогу скласти систему лінійних рівнянь, рішеннями якої є концентрації і атомні номери хімічних елементів, що входять до складу матеріалу. Висока енергія фотонів розсіяного випромінювання (17,44 кеВ) надає змогу виявляти легкі домішки, починаючи від водню (Z = 1), причому чим менше атомний номер домішки, тим вище чутливість методу.

• Михайлов Антон Ігорович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"