Вирішено важливу проблему продовження періоду експлуатації застарілого обладнання систем критичного призначення, планові заходи по заміні якого економічно недоцільні в даний час. При цьому необхідною умовою продовження періоду експлуатації є збереження встановлених ризиків виникнення критичних ситуацій, які можуть стати причиною аварій. Для невідновлюваних виробів прогнозується залишковий ресурс, а для відновлюваних і залишковий термін служби. Якщо в питаннях прогнозування стану механічних виробів багато проблемних питань на сьогоднішній день вирішені, то в напрямі електронних і електротехнічних виробів рішення даної проблеми вимагає подальших досліджень. Непереборні труднощі пов'язані з використанням теоретичної моделі надійності експоненціального розподілу, яка не передбачає протікання у виробах процесів деградації і старіння, що залежать від тривалості експлуатації. Як альтернатива для прогнозування залишкового ресурсу виробів електронної техніки в роботі пропонується вірогіднісно-фізична модель надійності - DN-розподіл, отримано спеціально для вирішення завдань по надійності для даного класу виробів. DN-розподіл є гнучкою двопараметричною функцією, яка найбільш точно описує будь-яку статистику відмов з різними коефіцієнтами варіації наробіток до відмови. Крім того, цей розподіл має функцію інтенсивності відмов, що змінюється в часі, яка відповідає більшості реальних об'єктів, схильних до деградації параметрів і старіння. На прикладі напівпровідникових транзисторів в роботі запропоновано методи прогнозування залишкового ресурсу виробів після тривалого зберігання без електричного навантаження і за результатами форсованих випробувань з підвищеним навантаженням.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"