Наведено результати розробки системи вимірювання еміттансних характеристик іонних джерел, досліджуваних в ІПФ НАН України з метою отримання іонних пучків із високою яскравістю. Систему вимірювання еміттанса виконано за схемою електростатичного сканера та складається з двох основних частин: сканера, який переміщається в напрямку, перпендикулярному осі пучка за допомогою крокового двигуна, та електронної системи управління, зборуйі обробки даних. Система управління та обробки даних містить мікрокомп'ютер Raspberry pi 3B, прецизійні ЦАП/АЦП, високовольтний підсилювач для генерування напруги +- 500 В на відхиляючих пластинах сканера, широкодиапазонний інтегратор струму. Визначення еміттанса полягає у вимірюванні розподілу інтенсивності іонного пучка при переміщенні сканера по координаті x та електростатичному скануванні по куту x'. Отриманий двовимірний масив даних надає можливість визначити основні еміттансні характеристики іонного пучка: геометричний 90 % еміттанс, середньоквадратичний еміттанс (СКЕ), параметри Твісса та рівняння фазового еліпса СКЕ, профіль струму пучка та розподіл щільності струму по куту. Для перевірки працездатності та функціональності вузлів системи проведено вимірювання еміттансних характеристик іонного джерела пеннінговского типу. Робочим газом був гелій, енергія пучка змінювалася в межах 7 - 15 кеВ. За енергії пучка 13 кеВ отримано наступні величини еміттанса пучка іонів He<^>+: 90 % еміттанс дорівнює 30 <$E pi>-мм-мрад, СКЕ дорівнює 8,4 мм-мрад, величина нормалізованого СКЕ становить 0,022 мм-мрад. Дана система вимірювання еміттанса іонних пучків характеризується малим часом проведення вимірювання, що становить 10 - 15 хв.

 Наукова періодика України 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"