РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000762671<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Studenyak I. P. 
Ellipsometric and spectrometric studies of (Ga0,2In0,8)2Se3 thin film = Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3 / I. P. Studenyak, M. Kranjcec, V. Yu. Izai, V. I. Studenyak, M. M. Pop, L. M. Suslikov // Укр. фіз. журн. - 2020. - 65, № 3. - С. 229-233. - Бібліогр.: 30 назв. - англ.

Тонкі плівки (Ga0,2In0,8)2Se3 були отримані методом термічного напилення. За допомогою методики спектральної еліпсометрії отримано дисперсійні залежності показника заломлення та коефіцієнта екстинкції. Дисперсію показника заломлення описано в рамках моделі Уемпла-Ді Доменіко. Спектри оптичного пропускання тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3 досліджено в інтервалі температур 77 - 300 К. Вивчено температурну поведінку урбахівського краю поглинання, а також температурні залежності ширини псевдозабороненої зони та урбахівської енергії. Обговорено вплив різних типів розупорядкування на край оптичного поглинання тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3. Проведено порівняння оптичних параметрів тонкої плівки та монокристала (Ga0,2In0,8)2Se3.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + В343.54

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Повний текст  Наукова періодика України 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського