Присвячено найсучаснішим методам дослідження поверхні твердого тіла - скануючій електронній та зондовій мікроскопії. Представлено сучасну наукову інформацію про можливості атомно-силової та електронної скануючої мікроскопії. Наведено характерні особливості методик атомно-силової мікроскопії, які дають змогу отримувати додаткову інформацію про властивості досліджуваних об'єктів. Розглянуто принцип роботи електронного скануючого мікроскопа і приклади реалізації різних методик для дослідження мікроскопічних об'єктів. Продемонстровано методичні прийоми усунення спотворень одержуваних зображень. Визначено електроннографічні методи; методичні особливості електронографії; особливості формування дифракційної картини. Наветено типи електронограм. Дано прецизійне визначення періоду решітки по електронограмі полікристалічних об'єктів.Зазначено електронограми монокристалічних плівок.

• Зайцев Роман Валентинович (1986–) (фізико-математичні науки)
• Кіріченко Михайло Валерійович (фізико-математичні науки)
• Зайцева Лілія Василівна (фізико-математичні науки)
• Хрипунов Геннадій Семенович (1963–) (фізико-математичні науки)
• Дроздов Антон Миколайович (1980–) (фізико-математичні науки)
• Дроздова Ганна Анатоліївна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"