На поверхневі характеристики компонентів, виготовлених з використаням методів адитивного виробництва, значною мірою впливають вхідні параметри. У роботі важливі вхідні коефіцієнти (товщина шару (LT), температура (T), швидкість друку (S), швидкість зовнішньої стінки (OWS), кут растру (RA), орієнтація (Or.), ширина лінії зовнішньої стінки (OWLW), заповнення перекриття (IO), ширина лінії заповнення (ILW) принтера для моделювання за допомогою методу наплавлення (FDM) змодельовано й оптимізовано для одержання кращої шорсткості поверхні (SR) деталей, виготовлених з нейлонових композиційних матеріалів на основі вуглецю (PA-CF). Для розробки вхідної експериментальної матриці було використано метод центрального композитного проектування, і на основі цих вхідних параметрів вимірювали шорсткість поверхні кожного прогону за допомогою приладу для вимірювання шорсткості поверхні Mitutoyo Talysurf. Було виготовлено загальну кількість зразків (61) з різними вхідними параметрами та випробувано їх шорсткості поверхні. Мінімальне значення шорсткості поверхні досліджуваних зразків з експериментальною проектною матрицею складало 6,331 мкм. Моделювання та оптимізація експериментальної проектної матриці було проведено з використанням еволюційного алгоритму, тобто штучної нейронної мережі, інтегрованої з генетичним алгоритмом (ANNGA). Мінімальне значення, одержане з використанням ANNGA для шорсткості, становить 5,01788 мкм, що відповідає різним оптимальним вхідним коефіцієнтам, таким як LT = 0,1776 мм, <$ET~=~236,0609~symbol Р roman C>, S = 40,7369 мм/с, OWS = 20,0676 мм/с, <$ERA~=~43,9177 symbol Р>, OWLW = 0,3445 мм, <$EOr.~=~0,0018 symbol Р>, IO = 56,6295 %, ILW = 0,3488 мм. За цих оптимізованих значень вхідних коефіцієнтів також виготовляється одна частина кінцевого використання та перевіряється розроблена гібридна модель. ANNGA можна використовувати для передбачення, оптимізації факторів і результатів у будь-яких інженерних застосуваннях.

 Наукова періодика України 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"