Bisen R. Bonding analysis of [Au (3,16 nm)/Co (1,5 nm)]x35/Si (100) multilayer thin film = Аналіз зв'язків в багатошаровій тонкій плівці [Au (3,16 нм)/Co (1,5 нм)]x35/Si (100) / R. Bisen, J. Tripathi, D. Kumar, J. Singh, A. Sharma // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2021. - 13, № 2. - С. 02012-1-02012-4. - Бібліогр.: 24 назв. - англ.Довжини зв'язку та інші локальні структурні параметри плівки [Au (3,16 нм)/Co (1,5 нм)]x35/Si (100) із надтонкими окремими шарами досліджували за допомогою абсорбційної рентгенівської спектроскопії (XAS). Багатошарову структуру було синтезовано за допомогою методу електронно-променевого випаровування в умовах надвисокого вакууму. Щоб одержати склад з 20 ваг % атомів Co в матриці Au, було спеціально обрано товщину та кількість шарів. Для вимірювань XAS використовували край поглинання LIII (11919 еВ) атома Au і край поглинання K (7709 еВ) атома Co. Теоретичну модель було створено за допомогою файлу кристалографічної інформації (CIF) обох (Au і Co) атомів, а потім для підгонки й аналізу даних було використано пакет комп'ютерних програм IFEFFIT. У даному дослідженні було проаналізовано структурну геометрію ближнього порядку окремих шарів, а саме стадію окиснення, інформацію про атоми оточення, зсув краю, довжину зв'язку та коефіцієнт Дебая - Уоллера. Індекс рубрикатора НБУВ: К663.033.057.3
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|