Керамічні зразки на основі мікрокристалічних порошків (Cu1-xAgx)7GeSe5I (x = 0, 0,25, 0,5, 0,75, 1) виготовлено шляхом їх пресування за тиску ~ 400 МПа з наступним відпалом за температурти 873 К протягом 36 год. З використанням методу мікроструктурного аналізу визначено розміри кристалітів одержаних керамік. Дослідження електропровідності керамічних матеріалів (Cu1-xAgx)7GeSe5I проведено за допомогою методу імпедансної спектроскопії у частотному діапазоні <$E10~-~3~cdot~10 sup 5> Гц та у температурному інтервалі 293 - 383 К. За результатами аналізу частотної залежності електропровідності на діаграмах Найквіста визначено внески іонної та електронної компонент електропровідності, а також їх співвідношення. Термоактиваційний характер електропровідності підтверджено на основі лінійності температурних залежностей її компонент в арреніусівських координатах. Побудовано відповідні концентраційні залежності іонної та електронної компонент електропровідності та їх енергій активації. Встановлено, що вони носять нелінійний характер, який пояснюється складним процесом рекристалізації та заміщенням <$Eroman Cu sup + symbol Л~roman Ag sup +> у межах катіонної підгратки.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Філеп Михайло Йосипович (хімічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"