За допомогою методу атомно-силової мікроскопії (ACM) досліджено морфологію поверхні тонких плівок Y2O3:Eu, одержаних за методом високочастотного (ВЧ) іонно-плазмового розпорошення, з концентрацією активатора у 1,0, 2,5 та 5 мол. %. На основі аналізу одержаних результатів встановлено практично лінійну залежність розмірів поверхневих структур від величини концентрації активатора та надлінійне зростання середньоквадратичної шерсткости поверхні та середньої віддалі між зернами. Проведено обговорення одержаних результатів.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"