Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000803370<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Фодчук І. М. Високороздільча X-променева дифрактометрія кристалічних сполук з розвиненою дислокаційною структурою / І. М. Фодчук, А. Р. Кузьмін, І. І. Гуцуляк, М. С. Солодкий, О. Л. Маслянчук, Ю. Т. Роман, В. П. Кладько, О. Й. Гудименко, В. Б. Молодкін, В. В. Лізунов // Metallophysics and Advanced Technologies. - 2021. - 43, № 10. - С. 1289-1304. - Бібліогр.: 44 назв. - укp.Структурні дефекти кристалічних сполук впливають на працездатність приладів, виготовлених на основі таких матеріалів. Запропоновано методику розрахунку дислокаційної структури таких сполук з проміжними значеннями густин дислокацій (~10<^>5 - 10<^>6 см<^>-2). Показано вплив різного роду дефектів на формування дифузної та когерентної складових розподілів інтенсивності розсіяння X-променів. Розглянуто вірогідні дислокаційні реакції як на межах блоків, так і всередині кристалів. На основі кінематичної теорії Кривоглаза з використанням методу Монте-Карло досліджено можливу дислокаційну систему у вигляді набору повних <$E60 symbol Р>-дислокацій та частинних дислокацій. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.313
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|