Спектроскопічна еліпсометрія широко використовується для дослідження оптичних властивостей тонкоплівкових покриттів з оптично гладкими поверхнями. Теоретичне моделювання розроблено в межах теорії моделі Селмейера з метою аналізу, розуміння та прогнозування оптичної поведінки тонкої плівки ZnO. ZnO є добре відомим напівпровідником з можливістю застосування в оптоелектроніці, наприклад, в сонячних елементах, світловипромінюючих діодах, рідкокристалічних дисплеях тощо. У роботі представлено аналіз оптичних властивостей тонких плівок ZnO, одержаних з застосуванням методу Селмейера за допомогою спектрів пропускання. Для цього було використано пакет MATLAB для генерування даних стосовно пропускання, і було помічено, що плівка демонструє 96 % пропускання в діапазоні 500 - 1000 нм, що є найкращим показником для сонячного спектра. Ці дані стосовно пропускання було використано для розрахунку різних оптичних параметрів, таких як показник заломлення, коефіцієнт екстинкції та оптична ширина забороненої зони, які було одержано за різними формулами залежно від довжини хвилі в УФ і видимій областях. Встановлено, що прямий перехід забороненої зони становить 3,23 еВ, а показник заломлення та коефіцієнт екстинкції змінюються до 400 нм. Така дослідницька робота допоможе знайти найкращу технологію тонкоплівкового покриття для розробки оптоелектронних пристроїв. Моделювання та порівняння оптичних властивостей допомагає оптимізувати найкраще співвідношення матеріал/властивості для перспективних пристроїв. Дане дослідження може забезпечити екологічно чистий і недорогий інструмент для оптоелектронних пристроїв і пристроїв на сонячних елементах.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"