РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000814807<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Оранська О. І. 
Про використання модельних дифракційних профілів для аналізу мікроструктури нанокристалічних оксидів металів за даними порошкової дифрактометрії / О. І. Оранська, Ю. І. Горніков, В. М. Гунько, А. В. Бричка // Поверхня : зб. наук. пр.. - 2022. - Вип. 14. - С. 148-158. - Бібліогр.: 24 назв. - укp.

Вивчення мікроструктури нанокристалічних речовин методом порошкової дифрактометрії за фізичним розширенням дифракційних ліній передбачає врахування дифракційних даних стандартних полікристалічних речовин, бажано, однієї природи з досліджуваними з розміром кристалітів, що перевищує 100 нм. У випадках відсутності таких стандартів вдаються до використання існуючої залежності ширини дифракційних піків від кута дифракції для наявного еталона або побудови теоретичних еталонних/інструментальних профілів через параметри колімації рентгенівських променів. Проведено порівняльне дослідження мікроструктури нанокристалічних оксидів титану (анатаз), олова, заліза (магнетит), синтезованих різними способами, за допомогою декількох методів аналізу порошкових дифрактограм. Для оцінки середнього розміру кристалітів досліджуваних оксидів обрано метод Шерера з графічним способом визначення ширини інструментального профілю та врахуванням впливу дублетного випромінювання. Для побудови функцій розподілу кристалітів за розміром і визначення через них середнього розміру кристалітів використано методи профільного аналізу дифракційних спектрів, такі як метод повно профільного моделювання порошкових дифрактограм (WPPM) і метод хорд. За визначеними для стандартного зразку, полікристалічного кремнію, параметрами колімації рентгенівських променів на обладнанні, що використовувалось, і функцією псевдо Войгта, яка найкраще описує профіль рентгенівської лінії, змодельовано інструментальні дифракційні профілі оксидів титану, олова, заліза. На їх основі побудовано функції розподілу кристалітів за розміром за методом WPPM і методом хорд. Знайдено, що значення середнього розміру кристалітів, одержані методами Шерера, WPPM і хорд, для кожного з оксидів відрізняються в межах одного порядку величини. Так, для оксиду титану це значення знаходиться в межах 12 - 18 нм, для оксиду олова в межах 7 - 10 нм, для оксиду заліза в межах 9 - 12 нм. Аналіз функцій розподілу кристалітів за розміром і значень середнього розміру кристалітів даних оксидів показав доцільність використання різних методів вивчення мікроструктури для уточнення дійсного характеру розподілу кристалітів за розміром і встановлення його зв'язку з умовами та способом синтезу.



Шифр НБУВ: Ж68643 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Повний текст  Наукова періодика України 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського