Korchynska O. Metrological risks in management system of product quality at the manufacturing stage / O. Korchynska, T. Hut // Вимірюв. техніка та метрологія : міжвід. наук.-техн. зб.. - 2022. - Вип. 83 (ч. 1). - С. 29-34. - Бібліогр.: 12 назв. - англ.
A method of estimating the size of metrological risk using a comprehensive indicator is being proposed in our article. It gives the possibility to assess the weight of the impact of each structural level on the comprehensive indicator, identifies the factors that cause this risk and vulnerabilities in the system of metrological support of production.
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"