РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000827725<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Дорожинська Г. В. 
Визначення товщини плазмон-носійних шарів фотометричним методом / Г. В. Дорожинська, М. О. Григорчук, Г. В. Дорожинський // Оптоелектроніка та напівпровідник. техніка : зб. наук. пр.. - 2022. - Вип. 57. - С. 152-159. - Бібліогр.: 10 назв. - укp.

Вплив конструкторсько-технологічних факторів, зокрема, відхилення товщини плазмоносійного шару від номінального значення, вносить невизначеність у вимірювання за методом поверхневого плазмонного резонансу. За допомогою методу числового моделювання в роботі показано вплив товщини нанорозмірних плівок сенсорів поверхневого плазмонного резонансу на їх оптичні характеристики. Проведено експериментальне дослідження за фотометричним методом спектрів пропускання, виміряно характеристики відбиття золотих плівок різної товщини за допомогою методу поверхневого плазмонного резонансу та встановлено узгодженість з теоретичними розрахунками. Як інформативний параметр для оцінки товщини нанорозмірних плівок золота сенсорів поверхневого плазмонного резонансу застосовувались коефіцієнти пропускання. Для різних за товщиною зразків характерним є не тільки різниця у кутових положеннях резонансу та інтенсивності відбитого світла в ньому, а також різна ширина резонансних характеристик в області мінімуму та форма графіка інтенсивності при кутах, менших за критичний. Коефіцієнт кореляції між товщиною досліджуваних зразків та відповідними коефіцієнтами пропускання на довжині хвилі 532 нм становить r = -0,943. Це означає, що між параметрами є кореляція, між ними є лінійна функціональна залежність. Встановлено емпіричну залежність <$Ed~=~1100,7712~cdot~Т sup -0,3328> з високим ступенем кореляції (r = -0,943) між товщиною та відповідними коефіцієнтами пропускання золотих плівок для <$Elambda~=~532> нм. При цьому відносна емпірична похибка визначення товщини не перевищує 3 %. Експериментально встановлено залежність максимуму спектра пропускання <$E roman T sub {lambda макc}> нанорозмірних золотих плівок від товщини цих плівок. При цьому крок визначення товщини не перевищує <$E1~roman A back 45 up 35 symbol Р>. Дані дослідження показують перспективність використання монохроматичного фотометричного методу для визначення товщини плазмоносійних нанорозмірних шарів.


Індекс рубрикатора НБУВ: В371.35

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського