Bordun O. M. Surface morphology of (La0,06Ga0,94)2O3:Eu thin films / O. M. Bordun, B. O. Bordun, I. I. Medvid, M. V. Protsak, K. L. Biliak, I. Yo. Kucharskyy, D. M. Maksymchuk, I. M. Kofliuk, D. S. Leonov // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр.. - 2023. - 21, вип. 3. - С. 593-603. - Бібліогр.: 19 назв. - англ.З використанням методу високочастотного (ВЧ) іонно-плазмового розпорошення в атмосфері аргону на монокристалічних підкладинках NaCl та аморфних підкладинках <$Eupsilon - roman {SiO sub 2 }> одержано тонкі плівки (Lа0,06Ga0,94)2O3:Eu. Дослідження морфології поверхні тонких плівок за методом атомно-силової мікроскопії показали, що з переходом від підкладинок NaCl до <$Eupsilon - roman {SiO sub 2 }> зростає середній діаметр кристалітів, які формують плівку від 23 нм до 48 нм. Термооброблення плівок на підкладинках з <$Eupsilon - roman {SiO sub 2 }> в атмосфері аргону призводить до зростання середніх діаметрів зерен до 68 нм і, відповідно, середньоквадратичної шерсткості від 0,5 нм до 6,1 нм. Проведено аналіз розподілів кристалітів за діаметром і за об'ємом та запропоновано, що у процесі ВЧ-напорошення відбувається зростання вторинних зерен, а у процесі високотемпературного термооброблення відбувається зростання вторинних і третинних зерен.
Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|