За допомогою еліпсометричної методики досліджено природу порушень, що виникають у приповерхневому шарі мідних дзеркал, одержаних алмазним мікроточінням. Виміряно інтенсивність відбитого випромінювання та визначено величину головного кута й еліптичності. Виявлено високу чутливість цих параметрів до досліджуваних способів нанесення відбивного шару та режимів осаджування. Установлено, що дія ряду технологічних факторів може призвести до зміни структури речовини по всій товщині осадженого шару (режим гальванічного осадження) або в тонкому приповерхневому шарі (режим точіння).

Індекс рубрикатора НБУВ: В378.26 + К202.6

Рубрики:

Тонкі шари металів

Тонкі шари (плівки) металів і сплавів

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Досліджено зміни структури поверхні систем після іонної імплантації, зокрема, виявлено формування блістерів на поверхні Ni та Pd плівок на ніобаті літію. Показано, що іонна імплантація призводить до зменшення коефіцієнта відбиття в спектральному діапазоні (0,25 - 15 мкм), а для Pd плівок на ніобаті літію коефіцієнт відбиття не залежить від довжини хвилі в спектральній області lambda=1 - 15 мкм. Еліпсометричні вимірювання показали, що іонна імплантація суттєво модифікує структуру приповерхневих шарів, розупорядковує її та призводить до аморфізації плівки та приповерхневого шару піроелектрика. Розрахунки коефіцієнта відбиття систем у моделях гладкої та шорсткої поверхонь за співвідношеннями Хагена - Рубенса та Топорця показали, що утворення блістерів є основним фактором, який призводить до зменшення коефіцієнта відбиття (збільшення поглинальної здатності) систем та його сталості в широкій області спектра (у випадку паладієвих плівок товщиною d=40 нм). Розроблено піроелектричні приймачі для вимірювання абсолютних значень інтенсивності як слабкого, так і потужного лазерного випромінювання, характеристики яких не поступаються характеристикам відомих теплових приймачів випромінювання.

Індекс рубрикатора НБУВ: В378.26 + В378.4 + К235.120.26

Рубрики:

Тонкі шари металів

Оптичні властивості металів (металооптика)

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Наведено результати аналізу властивостей фоточутливих матеріалів з нелінійною експозиційною характеристикою. Показано, що існує низка фото(термо)чутливих матеріалів, що дозволяють реєструвати зображення, розміри елементів яких є меншими за діаметр експонуючого променя. Надано результати лазерного запису на неорганічних фоторезистах.

Індекс рубрикатора НБУВ: В371.2/1 + В378.4

Рубрики:

Оптичні властивості металів (металооптика)

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В371.2/1 + В378.4

Рубрики:

Оптичні властивості металів (металооптика)

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Розглянуто особливості функціонування фотонних кристалів, методи створення фотонної забороненої зони та види математичного моделювання. Увагу приділено методам виготовлення фотонних кристалів і принципам побудови гібридних фотонних сенсорів і пристроїв. Розглянуто перспективи використання описаних технологій для виготовленні різноманітних приладів і систем.

Проведено порівняльний аналіз характеристик (резонансних кривих у газовому та рідкому середовищах і кінетики їх зміни у процесі адсорбції молекул білка), одержаних за використання сенсора поверхневого плазмонного резонансу (ППР) із призмовим типом збудженням за схемою Кречмана у тонкій плівці золота та конфігурації сканування кута падіння з механічною розгорткою, для чутливого елемента на скляній і полімерній основі. Показано, що використання пластикових матеріалів забезпечить зниження собівартості у разі збереження чутливості сенсора ППР і надасть можливість розробити його дисковий варіант на основі інтегрованого чіпа з голографічними гратками вводу-виводу світла.

Розглянуто шляхи поліпшення експлуатаційних характеристик (зниження вартості, підвищення чутливості та продуктивності) сенсорних приладів на основі призмового збудження поверхневого плазмонного резонансу (ППР) в конфігурації Кретчмана та скануванні кута падіння монохроматичного світла при застосуванні пластикової підкладки. Запропоновано удосконалену технологію виготовлення чутливого елемента ППР, яка включає гаряче пресування полімерної підкладки та модифікацію властивостей активного металевого покриття за рахунок низькотемпературного відпалу плівки Au або застосування біметалевої структури Ag/Au, що поєднує переваги обох шарів, а також конструкцію дискового варіанта сенсора на основі плоского інтегрованого чипа з голографічними гратками для вводу-виводу світла.