Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
у знайденому
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Автореферати дисертацій (11)Книжкові видання та компакт-диски (97)Журнали та продовжувані видання (1)
Пошуковий запит: (<.>U=з843.39$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 152
Представлено документи з 1 до 20
...

      
Категорія:    
1.

Мекекечко А. Ю. 
Синтез и исследование оптических характеристик эпитаксиальных пленочных структур на основе сульфида и селенида цинка : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. Ю. Мекекечко; ДГУ имени300-летия воссоединения Украины с Россией. - Днепропетровск, 1992. - 131 с. - Библиогр:с.113-131 - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС40473 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
2.

Мекекечко А. Ю. 
Синтез и исследование оптических характеристик эпитаксиальных пленочных структур на основе сульфида и селенида цинка : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. Ю. Мекекечко; ДГУ имени300-летия воссоединения Украины с Россией. - Днепропетровск, 1992. - 131 с. - Библиогр:с.113-131 - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + з843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС40473 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
3.

Мекекечко А. Ю. 
Синтез и исследование оптических характеристик эпитаксиальных пленочных структур на основе сульфида и селенида цинка : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. Ю. Мекекечко; ДГУ имени300-летия воссоединения Украины с Россией. - Днепропетровск, 1992. - 131 с. - Библиогр:с.113-131 - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + з843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС40473 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
4.

Мекекечко А. Ю. 
Синтез и исследование оптических характеристик эпитаксиальных пленочных структур на основе сульфида и селенида цинка : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. Ю. Мекекечко; ДГУ имени300-летия воссоединения Украины с Россией. - Днепропетровск, 1992. - 131 с. - Библиогр:с.113-131 - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС40473 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
5.

Макогон Ю. Н. 
Формирование фазового состава, структуры и свойств тонких пленок силицидов переходных металлов на кремнии : Дис...д-ра техн.наук:01.04.07 / Ю. Н. Макогон; КПИ. - К., 1993. - 355 c. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: З844.1-03 + З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС44872 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
6.

Скляр В. К. 
Электронно-адсорбционные свойства пленок окиси бария на вольфраме(110) и (100) : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / В. К. Скляр; Киевский университет имени Т. Шевченко. - К., 1993. - 175 c. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395 + В372.6

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС42534 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
7.

Макогон Ю. Н. 
Формирование фазового состава, структуры и свойств тонких пленок силицидов переходных металлов на кремнии : Дис...д-ра техн.наук:01.04.07 / Ю. Н. Макогон; КПИ. - К., 1993. - 355 c. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: з844.1-03 + З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС44872 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
8.

Скляр В. К. 
Электронно-адсорбционные свойства пленок окиси бария на вольфраме(110) и (100) : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / В. К. Скляр; Киевский университет имени Т. Шевченко. - К., 1993. - 175 c. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: з843.395 + В372.6

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС42534 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
9.

Макогон Ю. Н. 
Формирование фазового состава, структуры и свойств тонких пленок силицидов переходных металлов на кремнии : Дис...д-ра техн.наук:01.04.07 / Ю. Н. Макогон; КПИ. - К., 1993. - 355 c. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: з844.1-03 + З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС44872 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
10.

Скляр В. К. 
Электронно-адсорбционные свойства пленок окиси бария на вольфраме(110) и (100) : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / В. К. Скляр; Киевский университет имени Т. Шевченко. - К., 1993. - 175 c. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: з843.395 + В372.6

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС42534 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
11.

Макогон Ю. Н. 
Формирование фазового состава, структуры и свойств тонких пленок силицидов переходных металлов на кремнии : Дис...д-ра техн.наук:01.04.07 / Ю. Н. Макогон; КПИ. - К., 1993. - 355 c. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: З844.1-03 + З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС44872 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
12.

Скляр В. К. 
Электронно-адсорбционные свойства пленок окиси бария на вольфраме(110) и (100) : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / В. К. Скляр; Киевский университет имени Т. Шевченко. - К., 1993. - 175 c. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395 + В372.6

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС42534 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
13.

Головань Н. В. 
Исследование адсорбционно-десорбционного взаимодействия SO2, О2 с поверхностью пленок CdS, CdSe и влияния на это взаимодействие электронных процессов в объеме слоя : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Н. В. Головань; Одесский гос. университет имени И. И. Мечникова. - О., 1995. - 146 c. - рус.


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: ДС50146 Пошук видання у каталогах НБУВ 



      
Категорія:    
14.

Кучер Д. Б. 
Исследование распространения электромагнитной волны по поверхности сверхпроводящей пленки / Д. Б. Кучер // Радиотехника / Харьк. гос. техн. ун-т радиоэлектрон. - 1998. - Вып. 109. - С. 11-15. - Библиогр.: 4 назв. - рус.

Наведено результати вивчення кількісних характеристик, що дозволяють описати поширювання плоскої електромагнітної хвилі на поверхні плівки, зробленої з високотемпературного надпровідника. Глибину проникання магнітного поля та поверхневий імпеданс викорастано в якості даних характеристик.


Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж29221 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
15.

Дмитрук Н. Л. 
Определение оптических параметров тонких проводящих пленок и расчет спектра пропускания света в полупроводник солнечного элемента с плоской или текстурированной границей раздела / Н. Л. Дмитрук, О. Ю. Борковская, И. Б. Мамонтова, О. В. Фурсенко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 1999. - Вып. 34. - С. 156-165. - Библиогр.: 16 назв. - рус.

Предложен и проанализирован комплексный метод вычисления оптических потерь в тонкопленочных солнечных элементах, включающий: определение оптических констант тонких металлических пленок и (или) пленок прозрачных проводящих окислов на спутниковых прозрачных подложках в режимах обычной отражательной многоугловой эллипсометрии и эллипсометрии с возбуждением поверхностных плазменных поляритонов, измерение относительных спектров отражения света для тех же пленок на полупроводниковой подложке, расчет спектров пропускания света в фотоактивную область тонкопленочного элемента с плоскими или микрорельефными границами раздела со специальным видом микрорельефа.


Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
16.

Савчук В. К. 
Дослідження фізико-технологічних процесів імпульсного лазерного напилення та модифікації властивостей тонких плівок багатокомпонентних металооксидів та телуридів кадмію-ртуті : Автореф. дис...канд. техн. наук : 05.27.06 / В. К. Савчук; Держ. ун-т "Львів. політехніка". - Л., 2000. - 20 c. - укp.

  Скачати повний текст


Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395-060.7

Рубрики:

Шифр НБУВ: РА309457 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
17.

Калинюк М. В. 
Вплив розмірних ефектів та технологічних факторів на кінетичні властивості плівок телуриду свинцю : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.18 / М. В. Калинюк; Прикарп. ун-т ім. В.Стефаника. - Івано-Франківськ, 2000. - 19 c. - укp.

  Скачати повний текст


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.225,022 + В379.226,022 + з843.395-06

Рубрики:

Шифр НБУВ: РА310836 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
18.

Родионов М. К. 
Алгоритм оценки оптических и терморадиационных характеристик ультрадисперсных селективных покрытий / М. К. Родионов, А. В. Мачулянский, С. В. Кидинов // Электроника и связь. - К., 2001. - № 11. - С. 64-66. - Библиогр.: 8 назв. - рус.

Рассмотрен алгоритм расчета оптических и терморадиационных характеристик ультрадисперсных селективных покрытий согласно теории эффективной среды оптических свойств тонких пленок.


Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж69367 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
19.

Давиденко С. М. 
Отримання структур з квантовими ямами, гетероструктур та тонких плівок напівпровідників $Eroman {А sup 4 В sup 6 } та дослідження їх властивостей : Автореф. дис... канд. техн. наук : 05.27.06 / С. М. Давиденко; НАН України. Ін-т фізики напівпровідників. - К., 2001 - укp.

  Скачати повний текст


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226,022 + В379.21,022 + З843.395

Рубрики:

Шифр НБУВ: РА316515 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія:    
20.

Литвин О. С. 
Морфологічні та структурні зміни в напівпровідниках $Eroman {А sup 3 В sup 5 } і $Eroman {А sup 2 В sup 6 } та системах на їх основі, стимульовані післяростовими обробками : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / О. С. Литвин; НАН України. Ін-т фізики напівпровідників. - К., 2001. - 20 c. - укp.

Встановлено зв'язок наноморфології поверхні полікристалічних плівок, що є компонентами напівпровідникових приладних структур, з їх внутрішньою кристалічною структурою, рівнем механічних напруг у системах як цілому та процесами на межі поділу фаз, спричиненими високотемпературними відпалами. Встановлено зв'язок морфологічних і структурних характеристик полікристалічних плівок ZnS:Cu з умовами їх виготовлення та післяростових обробок. Досліджено залежність структурної досконалості контактних систем на GaAs з антидифузійним шаром дибориду титану від режиму магнетронного напилення та їх термічну стійкість. З використанням комплексу методів рентгеноструктурного аналізу й атомно-силової мікроскопії доведено пряму залежність морфологічних характеристик поверхні полікристалічних плівок від процесів структурної релаксації та перебудови всередині плівки, а також на межі розділу плівка - підкладка. Результати досліджень розвивають модельні уявлення про характер і походження структурних нерівноважностей багатошарових структур і процеси структурної релаксації в них, викликані зовнішніми впливами.

  Скачати повний текст


Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226,022 + В372.23,022 + з843.39

Рубрики:

Шифр НБУВ: РА315412 Пошук видання у каталогах НБУВ 
...
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського