Пошуковий запит: (<.>U=з843.39$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 152
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
|
| | |
|
1. |
Мекекечко А. Ю. Синтез и исследование оптических характеристик эпитаксиальных пленочных структур на основе сульфида и селенида цинка : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. Ю. Мекекечко; ДГУ имени300-летия воссоединения Украины с Россией. - Днепропетровск, 1992. - 131 с. - Библиогр:с.113-131 - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС40473 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
2. |
Мекекечко А. Ю. Синтез и исследование оптических характеристик эпитаксиальных пленочных структур на основе сульфида и селенида цинка : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. Ю. Мекекечко; ДГУ имени300-летия воссоединения Украины с Россией. - Днепропетровск, 1992. - 131 с. - Библиогр:с.113-131 - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + з843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС40473 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
3. |
Мекекечко А. Ю. Синтез и исследование оптических характеристик эпитаксиальных пленочных структур на основе сульфида и селенида цинка : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. Ю. Мекекечко; ДГУ имени300-летия воссоединения Украины с Россией. - Днепропетровск, 1992. - 131 с. - Библиогр:с.113-131 - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + з843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС40473 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
4. |
Мекекечко А. Ю. Синтез и исследование оптических характеристик эпитаксиальных пленочных структур на основе сульфида и селенида цинка : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. Ю. Мекекечко; ДГУ имени300-летия воссоединения Украины с Россией. - Днепропетровск, 1992. - 131 с. - Библиогр:с.113-131 - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС40473 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
5. |
Макогон Ю. Н. Формирование фазового состава, структуры и свойств тонких пленок силицидов переходных металлов на кремнии : Дис...д-ра техн.наук:01.04.07 / Ю. Н. Макогон; КПИ. - К., 1993. - 355 c. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: З844.1-03 + З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС44872 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
6. |
Скляр В. К. Электронно-адсорбционные свойства пленок окиси бария на вольфраме(110) и (100) : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / В. К. Скляр; Киевский университет имени Т. Шевченко. - К., 1993. - 175 c. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395 + В372.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС42534 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
7. |
Макогон Ю. Н. Формирование фазового состава, структуры и свойств тонких пленок силицидов переходных металлов на кремнии : Дис...д-ра техн.наук:01.04.07 / Ю. Н. Макогон; КПИ. - К., 1993. - 355 c. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: з844.1-03 + З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС44872 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
8. |
Скляр В. К. Электронно-адсорбционные свойства пленок окиси бария на вольфраме(110) и (100) : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / В. К. Скляр; Киевский университет имени Т. Шевченко. - К., 1993. - 175 c. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: з843.395 + В372.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС42534 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
9. |
Макогон Ю. Н. Формирование фазового состава, структуры и свойств тонких пленок силицидов переходных металлов на кремнии : Дис...д-ра техн.наук:01.04.07 / Ю. Н. Макогон; КПИ. - К., 1993. - 355 c. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: з844.1-03 + З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС44872 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
10. |
Скляр В. К. Электронно-адсорбционные свойства пленок окиси бария на вольфраме(110) и (100) : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / В. К. Скляр; Киевский университет имени Т. Шевченко. - К., 1993. - 175 c. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: з843.395 + В372.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС42534 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
11. |
Макогон Ю. Н. Формирование фазового состава, структуры и свойств тонких пленок силицидов переходных металлов на кремнии : Дис...д-ра техн.наук:01.04.07 / Ю. Н. Макогон; КПИ. - К., 1993. - 355 c. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: З844.1-03 + З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС44872 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
12. |
Скляр В. К. Электронно-адсорбционные свойства пленок окиси бария на вольфраме(110) и (100) : Дис...канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / В. К. Скляр; Киевский университет имени Т. Шевченко. - К., 1993. - 175 c. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395 + В372.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС42534 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
13. |
Головань Н. В. Исследование адсорбционно-десорбционного взаимодействия SO2, О2 с поверхностью пленок CdS, CdSe и влияния на это взаимодействие электронных процессов в объеме слоя : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Н. В. Головань; Одесский гос. университет имени И. И. Мечникова. - О., 1995. - 146 c. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: ДС50146 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
14. |
Кучер Д. Б. Исследование распространения электромагнитной волны по поверхности сверхпроводящей пленки / Д. Б. Кучер // Радиотехника / Харьк. гос. техн. ун-т радиоэлектрон. - 1998. - Вып. 109. - С. 11-15. - Библиогр.: 4 назв. - рус.Наведено результати вивчення кількісних характеристик, що дозволяють описати поширювання плоскої електромагнітної хвилі на поверхні плівки, зробленої з високотемпературного надпровідника. Глибину проникання магнітного поля та поверхневий імпеданс викорастано в якості даних характеристик. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж29221 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
15. |
Дмитрук Н. Л. Определение оптических параметров тонких проводящих пленок и расчет спектра пропускания света в полупроводник солнечного элемента с плоской или текстурированной границей раздела / Н. Л. Дмитрук, О. Ю. Борковская, И. Б. Мамонтова, О. В. Фурсенко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 1999. - Вып. 34. - С. 156-165. - Библиогр.: 16 назв. - рус.Предложен и проанализирован комплексный метод вычисления оптических потерь в тонкопленочных солнечных элементах, включающий: определение оптических констант тонких металлических пленок и (или) пленок прозрачных проводящих окислов на спутниковых прозрачных подложках в режимах обычной отражательной многоугловой эллипсометрии и эллипсометрии с возбуждением поверхностных плазменных поляритонов, измерение относительных спектров отражения света для тех же пленок на полупроводниковой подложке, расчет спектров пропускания света в фотоактивную область тонкопленочного элемента с плоскими или микрорельефными границами раздела со специальным видом микрорельефа. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
16. |
Савчук В. К. Дослідження фізико-технологічних процесів імпульсного лазерного напилення та модифікації властивостей тонких плівок багатокомпонентних металооксидів та телуридів кадмію-ртуті : Автореф. дис...канд. техн. наук : 05.27.06 / В. К. Савчук; Держ. ун-т "Львів. політехніка". - Л., 2000. - 20 c. - укp. Скачати повний текст
Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395-060.7
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА309457 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
17. |
Калинюк М. В. Вплив розмірних ефектів та технологічних факторів на кінетичні властивості плівок телуриду свинцю : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.18 / М. В. Калинюк; Прикарп. ун-т ім. В.Стефаника. - Івано-Франківськ, 2000. - 19 c. - укp. Скачати повний текст
Індекс рубрикатора НБУВ: В379.225,022 + В379.226,022 + з843.395-06
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА310836 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
18. |
Родионов М. К. Алгоритм оценки оптических и терморадиационных характеристик ультрадисперсных селективных покрытий / М. К. Родионов, А. В. Мачулянский, С. В. Кидинов // Электроника и связь. - К., 2001. - № 11. - С. 64-66. - Библиогр.: 8 назв. - рус.Рассмотрен алгоритм расчета оптических и терморадиационных характеристик ультрадисперсных селективных покрытий согласно теории эффективной среды оптических свойств тонких пленок. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж69367 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
19. |
Давиденко С. М. Отримання структур з квантовими ямами, гетероструктур та тонких плівок напівпровідників $Eroman {А sup 4 В sup 6 } та дослідження їх властивостей : Автореф. дис... канд. техн. наук : 05.27.06 / С. М. Давиденко; НАН України. Ін-т фізики напівпровідників. - К., 2001 - укp. Скачати повний текст
Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226,022 + В379.21,022 + З843.395
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА316515 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
| | |
|
20. |
Литвин О. С. Морфологічні та структурні зміни в напівпровідниках $Eroman {А sup 3 В sup 5 } і $Eroman {А sup 2 В sup 6 } та системах на їх основі, стимульовані післяростовими обробками : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / О. С. Литвин; НАН України. Ін-т фізики напівпровідників. - К., 2001. - 20 c. - укp.Встановлено зв'язок наноморфології поверхні полікристалічних плівок, що є компонентами напівпровідникових приладних структур, з їх внутрішньою кристалічною структурою, рівнем механічних напруг у системах як цілому та процесами на межі поділу фаз, спричиненими високотемпературними відпалами. Встановлено зв'язок морфологічних і структурних характеристик полікристалічних плівок ZnS:Cu з умовами їх виготовлення та післяростових обробок. Досліджено залежність структурної досконалості контактних систем на GaAs з антидифузійним шаром дибориду титану від режиму магнетронного напилення та їх термічну стійкість. З використанням комплексу методів рентгеноструктурного аналізу й атомно-силової мікроскопії доведено пряму залежність морфологічних характеристик поверхні полікристалічних плівок від процесів структурної релаксації та перебудови всередині плівки, а також на межі розділу плівка - підкладка. Результати досліджень розвивають модельні уявлення про характер і походження структурних нерівноважностей багатошарових структур і процеси структурної релаксації в них, викликані зовнішніми впливами. Скачати повний текст Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226,022 + В372.23,022 + з843.39
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА315412 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| |