Structure studies of the quantum crystal of solid normal hydrogen doped with methane and deuteromethane are carried out by powder x-ray diffraction within the temperature range 5 to 12 K. The concentration of the dopants in the gas mixtures used for sample preparation by quench condensing is varied from 0.5 % to 5 %. It is established that the equilibrium solubility of both methanes is substantially below the lower fraction indicated. The abnormally high apparent extra volumes per impurity may be ascribed to van der Waals complexes formed around isolated dopant particles.

Надано теоретичне та експериментальне обгрунтування запропонованого нового методу диференційно-інтегральної трикристальної рентгенівської дифрактометрії недосконалих монокристалів. Розглянуто принципи роботи трикристального рентгенівського дифрактометра (ТРД) в диференційному режимі вимірювань. Надано опис оригінальної конструкції та схеми універсального ТРД, створеного в ІМФ НАН України з метою реалізації запропонованого методу. У випадку брегг-дифракції рентгенівських променів у монокристалах з однорідно розподіленими обмеженими дефектами отримано вирази, що встановлюють аналітичний зв'язок між відношенням інтегральних інтенсивностей дифузного та когерентного піків ТРД від досліджуваного кристала, тобто відношенням диференційних інтенсивностей дифузного та когерентного розсіяння, проінтегрованих по сфері Евальда поблизу вузла оберненої гратки, та характеристиками дефектів різного роду. Вирази, що отримані, використано для високоінформативної діагностики дефектів за кутовими залежностями інтегральних параметрів профілів інтенсивностей ТРД, виміряних від монокристала кремнію, який містить хаотично розподілені частки нової фази. Обговорюються переваги запропонованої модифікації методу ТРД.

Рассмотрена задача восстановления напряженного состояния твердых тел кусочно-однородной структуры по результатам измерений, использующих эффекты взаимодействия внешних физических полей с полем напряжений. Исходная математическая модель состоит из трех основных элементов: модели напряженного состояния, данных неразрушающего контроля, полученных одним или несколькими методами, и модели, описывающей взаимодействие зондирующего излучения с полем напряжений. Задача восстановления напряженного состояния в рамках модели сведена к минимизации квадратичного функционала, в котором учитываются как результаты измерений различными физическими методами, так и заданные условия на поверхности тела и границах, разделяющих его разнородные составляющие. Такой подход позволяет осуществлять численную реализацию прямых и обратных задач в едином алгоритме. Установлена аналитическая структура лучевых интегралов поля напряжений, определяемых путем поляризационно-оптических измерений, и на этой основе рассмотрена реализация предложенного метода для решения задач интегральной фотоупругости. Приведен конкретный пример применения метода для исследования концентрации напряжений в окрестности границы раздела разнородных тел.

За методом аналітичної регуляризації одержано точний розв'язок векторної задачі дифракції плоскої електромагнітної хвилі на одновимірній періодичній гратці з кіральним середовищем. Показано, що за нормального падіння хвилі лише з однією поляризацією відбите поле містить хвилі обох поляризацій, що пояснюється присутністю кірального середовища, яке пов'язує дві поляризації. Вивчено характерні особливості дифракції, спричинені кіральним середовищем. Встановлено, що значний вплив на характер дифракції мають явище резонансів і процеси перерозподілення енергії, коли кількість розповсюджуваних гармонік поля в середовищах значно різниться.

Створено теоретичні та експериментальні основи методу інтегральної трикристальної рентгенівської дифрактометрії та наведено результати, які демонструють його можливості. У запропонованих варіантах методу, додатково до вимірювань повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) дефектних монокристалів, реалізовано роздільне вимірювання когерентної та дифузної компонент ПІВЗ та їх товщинних залежностей. Сепарування когерентної та дифузної компонент ПІВЗ забезпечило підвищення чутливості до структурних недосконалостей кристалічної гратки порівняно з методом товщинних залежностей ПІВЗ.

Предложен метод бинарной сегментации изображений, который позволяет автоматизировать процесс исследования многооттеночных изображений. Метод может быть использован для изучения зональной пористости образцов из дисперсных материалов по фотографиям их шлифов.

Відносно прості аналітичні формули, виведені для повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) монокристалів з випадково розподіленими дефектами у граничних випадках динамічної дифракції рентгенівських променів (наближення тонкого та товстого кристалів для симетричної геометрії дифракції Лауе та асиметричної - Брегга), застосовано для розробки нових (комбінованих) методів ПІВЗ з метою визначення параметрів дефектів. Вирази для ПІВЗ залежать в явному вигляді від статичного фактора Дебая - Валлера та двох коефіцієнтів поглинання завдяки дифузному розсіянню для когерентної та дифузної компонент ПІВЗ, до складу яких входять параметри дефектів та дифракційні параметри. Спільна обробка товщинних (у випадку Лауе) та/або азимутальних (у випадку Брегга) залежностей ПІВЗ, які вимірювались для різних довжин хвиль та/або рефлексів, підвищує чутливість та надійність методів ПІВЗ під час діагностики параметрів дефектів. Можливості комбінованих методів продемонстровано теоретично та експериментально для відпаленого монокристала кремнію.

Рассмотрены проблемы, возникающие при компьютерной обработке дифракционных спектров, полученных на стандартном оборудовании от наиболее "ходового" технического материала - поликристалла. Представлены оптимизационные алгоритмы компьютерного индуцирования, критерии достоверностей и предельные возможности метода.

Наведено теоретичні обгрунтування і практичні приклади реалізації вимірювання частотної дисперсії електрофізичних параметрів речовин та матеріалів із застосуванням комутаційно-модуляційних перетворень сигналів широкого частотного діапазону. Принцип структурно-часової надлишковості в цих перетвореннях забезпечує суттєве підвищення точності аналізу складу та властивостей речовин, дозволяє виявляти та коректувати більшість похибок.

Надано теоретичні обгрунтування та практичні приклади вимірювання частотної дисперсії електрофізичних параметрів речовин та матеріалів. Висвітлено питання моделювання сенсорів з досліджуваною речовиною. Наведено функціональні схеми та класифікацію приладів і систем для вимірювання частотних змін параметрів сенсорів. Розглянуто методи і засоби вимірювання нерівномірності та нелінійності частотних характеристик сенсорів.

Проведено аналіз можливостей розпізнавання двох сигналів ударного збудження, які відрізняються по формі та частоті. Досліджена залежність імовірності виявлення дефектів від параметрів сигналів та імовірності помилкової тривоги. Визначені умови високої ефективності розпізнавання вільних коливань.

Розглянуто застосування спеціальних вістер для дослідження поверхні Si(111)7 times 7 і розширення можливостей скануючих тунельних мікроскопії (СТМ) та спектроскопії (СТС). Створено спеціальні вістря, які дають зображення залишкових атомів вищими та зображення адатомів на 0,4 - 1 ангстрем. Вперше спостерігалося зображення атомів на дні кутових ям на СТМ-зображеннях, отриманих за допомогою спеціального вістря.

Описано сучасний стан та перспективи розвитку програмного забезпечення системи рентгеноспектрального мікроаналізу, що використовується в електронних мікроскопах-мікроаналізаторах РЕММА-101А та РЕММА-102.

У випадку симетричної Лауе-дифракції для кристалів зі згином параболічної форми, отримано систему диференціальних рівнянь, які описують міжгілкове розсіяння рентгенівських променів. Показано, що міжгілковий обмін можна розглядати як результат динамічної взаємодії ейкональних мод, які повністю визначають внутрішньогілкове розсіяння рентгенівських променів. Зроблено висновок про те, що міжгілкове розсіяння є значним тільки в області кристала, для якої суттєвим є багаторазове когерентне розсіяння рентгенівських променів. Особливості міжгілкового розсіяння рентгенівських променів досліджено також у випадку сильних деформацій, коли має місце кінематичний режим дифракції.

Запропоновано теорію походження гальмівного випромінювання і кількісні оцінки мішеней фотонної радіографії для практичного використання. Пропозиції є необхідними працюючим у радіаційному діапазоні електромагнітних хвиль і корисними в суміжних областях.

Узагальнені аналітичні вирази для повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) тонких монокристалів з мікродефектами одержано для випадку дифракції рентгенівських променів за Лауе. Виміряно енергетичні залежності ПІВЗ та сепаровані когерентної і дифузної компонент ПІВЗ з використанням набору характеристичних жорстких рентгенівських випромінювань. За результатами аналізу вимірювань визначено характеристики мікродефектів у термооброблених кристалах кремнію.

Ключ. слова: solid solution, short-range order, X-ray diffuse scattering, short-range order parameters
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 + К230.401

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Методи дослідження станів і структури кольорових металів і сплавів

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: nonstoichoimetry, x-ray diffraction, order-disorder transformation, reactive diffusion
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.13 + В375.3

Рубрики:

Рентгеноструктурний аналіз

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: трехволновая дифракция, эффект Бормана, одномерная деформация, аномальное прохождение рентгеновских лучей
Індекс рубрикатора НБУВ: В376.1 + В372.134

Рубрики:

Твердість. Пружність. Поширення звуку (пружних коливань) в монокристалах

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ